会员登录 - 用户注册 - 设为首页 - 加入收藏 - 网站地图 中移芯昇顺利完成无源物联网芯片回片测试!

中移芯昇顺利完成无源物联网芯片回片测试

时间:2026-07-10 16:27:51 来源:东莞东业大拓金属有限公司 作者:热点 阅读:743次

近日,中移中移芯昇最新版无源物联网Ⅰ类、芯昇ⅡA(半无源)类芯片标签CM5610A/B Alpha完成第一轮系统测试,顺利试各项功能均符合设计预期。完成无源物联网芯Ⅰ类芯片也称为纯无源芯片,片回片测完全通过射频采能获取能量;ⅡA也称为半无源芯片,中移除了射频采能之外,芯昇允许通过环境采能获取能量。顺利试

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CM5610A-Alpha

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CM5610B-Alpha

从3月回片至今,完成无源物联网芯经过与网络设备厂商紧密联合攻关,片回片测本轮测试效果在多项关键指标上均有提升:无源标签充能灵敏度提升1db,中移多标签盘存成功率达到99.9%,芯昇ⅡA发射增益提升至最大24db。顺利试

后续,完成无源物联网芯中移芯昇将持续投入芯片研发,片回片测保持与3GPP标准的一致,并致力于提供更好的标准技术方案。同步将会积极开展试点工作,实现应用场景的技术贯通。

(责任编辑:时尚)

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